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Photo de DIAKONOVA Nina
DIAKONOVA Nina      
Organisme : CNRS
Ingénieur de recherche
BAP C (Sciences de l'ingénieur et instrumentation scientifique)
Département: SMC
Equipe: Spectroscopie Térahertz et Métrologie Quantique
Autre(s) thème(s) de recherche ou rattachement(s) :
 - Spectroscopie Térahertz
email: Nina.Diakonova_AT_univ-montp2.fr       
Tel: 0467144518
Room: Bureau: 60.0, Bât: 13 - Site : Campus Triolet
vCard

Domaines de Recherche:
  • Physique/Matière Condensée/Science des matériaux
Dernieres productions scientifiques :
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+ Temperature, Back Gate and Polarization Studies in Nanotransistor based THz plasma detectors hal link
Auteur(s): Knap W., But D., Bawedin M., Chang S., Klimenko O., Diakonova N., Coquillat D., El Fatimy A., Teppe F., Gutin A., Nagatsuma T., Cristoloveanu S.
Conference: 2013 21ST INTERNATIONAL CONFERENCE ON APPLIED ELECTROMAGNETICS AND COMMUNICATIONS (ICECOM 2013) (, FR, 2013-10-14)
Actes de conférence: International, vol. p.1 - 6 (2013)
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+ Field effect transistor as detector of THz radiation helicity doi link
Auteur(s): Romanov K., Diakonova N., But D., Teppe F., Knap W., Dyakonov M., Drexler C., Olbrich P., Karch J., Schafberger M., Ganichev S., Mityagin Yu, Klimenko O.
Conference: TERAHERTZ EMITTERS, RECEIVERS, AND APPLICATIONS IV (San-Diego, US, 2013-08-25)
Actes de conférence: Proceedings of SPIE, vol. 8846 p.88460N (2013)
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+ The dynamic range of THz broadband FET detectors doi link
Auteur(s): But D., Diakonova N., Drexler C., Drachenko O., Romanov K., Golenkov O. g., Sizov F. f., Gutin A., Shur M., Ganichev S. d., Knap W.
Conference: TERAHERTZ EMITTERS, RECEIVERS, AND APPLICATIONS IV (San-Diego, US, 2013-08-25)
Actes de conférence: Proceedings of SPIE, vol. 8846 p.884612 (2013)
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+ Nanotransistor based THz plasma detectors: low temperatures, graphene, linearity, and circular polarization studies doi link
Auteur(s): Knap W., But D., Diakonova N., Coquillat D., Vitiello M. S., Blin S., El Fatimy A., Teppe F., Tredicucci A., Nagatsuma T., Ganichev S.
Conference: TERAHERTZ EMITTERS, RECEIVERS, AND APPLICATIONS IV (San-Diego, US, 2013-08-25)
Actes de conférence: Proceedings of SPIE, vol. 8846 p.88460M (2013)
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+ Terahertz imaging using strained-Si MODFETs as sensors doi link
Auteur(s): Meziani Y. M., Garcia-garcia E., Velazquez-perez J. e., Coquillat D., Diakonova N., Knap W., Grigelionis I., Fobelets K.
(Article) Publié: Solid-State Electronics, vol. 83 p.113-117 (2013)
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