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Notre expertise en mesures optique et électrique est dédiée à l’étude des semiconducteurs et des capteurs à base de nanostructures. Nos deux axes de recherche sont la physique et la nanophysique des composés III-V d’une part et l’ axe « matériau » qui concerne les semiconducteurs à large bande interdite et le graphène d’autre part. Le premier axe met à profit les connaissances d’une recherche fondamentale dans des actions de physique appliquée (capteurs GaAs/GaInAs/GaAlAs à effet Hall, composants à base de nitrure, photodiodes à base de super réseaux InAs/GaSb). Dans le deuxième axe, un sujet majeur reste l’étude du carbure de silicium, semiconducteur pour l’électronique de puissance, et plus particulièrement l’étude des fautes d’empilement qui sont la principale cause de défaillance des dispositifs. Notre expertise sur le SiC a conduit à l’émergence de l’activité « graphène » avec pour objectif de développer des films de graphène épitaxiés par la sublimation du SiC et d’étudier leurs propriétés optiques et électriques sur des dispositifs adaptés.
L’ensemble de nos activités s’organisent dans le cadre de nombreuses collaborations au travers de projets nationaux et européens.
BaCoO 2 with Tetrahedral Cobalt Coordination: The Missing Element to Understand Energy Storage and Conversion Applications in BaCoO 3−δ -Based Materials Auteur(s): Diatta Aliou, Colin Claire, Viennois Romain, Beaudhuin Mickael, Haines Julien, Hermet P., van der Lee Arie, Konczewicz L., Armand Pascale, Rouquette Jérôme (Article) Publié: Journal Of The American Chemical Society, vol. 146 p.15027-15035 (2024) |
High-Order Commensurate Zwitterionic Quinonoid Phase Induces a Nanoscale Dipole Lattice on Graphene Auteur(s): Nassar Gaelle, Cortés-Arriagada Diego, Sanhueza-Vega Luis, Landois P., Paillet M., Hrich H., Contreras S., Siri Olivier, Pascal Simon, Masson Laurence, Becker Conrad, Ranguis Alain, Parret R., Canard Gabriel, Leoni Thomas (Article) Publié: The Journal Of Physical Chemistry C, vol. p. (2024) |
Hall sensors, based on GaAs/GaInAs/GaAlAs pseudomorphic heterostructures, can be used for metrological and microscopic applications like electricity metering or scanning magnetometer. (…)
High temperature devices. At elevated temperature, the semiconductor materials like Si or “classical” III-V compounds reach their natural limit and the use of a wide band gap material like (…)
InAs/GaSb strain layer superlattices (SLS) emerge as an attractive system for infrared detection devices. Already the high performance photodiodes, in the 3-5 μm range (or MWIR : mid-wavelength (…)
The topic of Silicon carbide (SiC) is due to a long term collaboration with National and international University and Industries. SiC is an attractive material for developing high power devices, (…)
Our SiC expertise yields the emergence of a graphene research activity in collaborations with several groups : LCVN Centro National de Microelectronica (Barcelona, Spain) ANR Graphsic (Institut (…)