Laboratoire Charles Coulomb UMR 5221 CNRS/UM2 (L2C)

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(137) Production(s) de GUILLET T.

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+ Nonlinear relaxation of zero-dimension-trapped microcavity polaritons doi link

Auteur(s): El daif Ounsi, Nardin Gaël, Paraïso Taofiq, Baas Augustin, Richard Maxime, Brantut Jean-philippe, Guillet T., Morier-genoud François, Deveaud-plédran Benoit

(Article) Publié: Applied Physics Letters, vol. 92 p.081910 (2008)
Texte intégral en Openaccess : arxiv


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+ Which quasi-particles in wide band gap bulk microcavities ? hal link

Auteur(s): Faure Stephane, Guillet T., Lefebvre P., Bretagnon T., Taliercio T., Gil B.

Conference: 8th International Conference on Physics of Light-Matter Coupling in Nanostructures (PLMCN8) (Tokyo, JP, 2008-04-07)


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+ Internal electric field in ZnO/Zn1-xMgxO in single quantum wells. hal link

Auteur(s): Bretagnon T., Faure Stéphane, Guillet T., Lefebvre P., Gil B., Morhain Christian

Conference: Fifth International Workshop on Zinc Oxide and Related Materials. (Ypsilanti, Michigan., US, 2008-09-21)


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+ Comparison of strong coupling regimes in bulk GaAs, GaN and ZnO semiconductor microcavities doi link

Auteur(s): Faure Stephane, Guillet T., Lefebvre P., Bretagnon T., Gil B.

(Article) Publié: Physical Review B, vol. 78 p.235323 (2008)
Texte intégral en Openaccess : arxiv


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+ Experimental observation of strong light-matter coupling in ZnO microcavities: influence of large excitonic absorption doi link

Auteur(s): Médard François, Zúñiga-Pérez Jesús, Disseix Pierre, Mihailovic Martine, Leymarie Joel, Vasson A., Semond Fabrice, Frayssinet Eric, Moreno Jean-Christophe, Leroux Mathieu, Faure Stephane, Guillet T.

(Article) Publié: Physical Review B, vol. 79 p.125302 (2009)
Texte intégral en Openaccess : arxiv


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+ Polarized emission of GaN/AlN quantum dots : single dot spectroscopy and symmetry-based theory doi link

Auteur(s): Bardoux Richard, Guillet T.(Corresp.), Gil B., Lefebvre P., Bretagnon T., Taliercio T., Rousset S., Semond F.

(Article) Publié: Physical Review B, vol. 77 p.235315 (2008)
Texte intégral en Openaccess : arxiv


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+ Electric-field screening effects in the micro-photolurninescence spectra of as-grown stacking faults in 4H-SiC hal link

Auteur(s): Juillaguet S., Guillet T., Bardoux Richard, Camassel J., Chassagne T.

Conference: 6th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials (Newcastle upon Tyne (ENGLAND), FR, 2006-09)
Actes de conférence: Silicon Carbide and Related Materials 2006, vol. 556-557 p.351-354 (2007)


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